納米顆粒跟蹤分析儀

產(chǎn)品型號： ZetaView

所屬分類：分析儀

產(chǎn)品時間：2023-10-28

簡要描述：納米顆粒跟蹤分析儀
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細(xì)說明：

納米顆粒跟蹤分析儀

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此

外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑。可檢測的最小濃度為105粒子/cm3，最大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：SkyScan 1275高分辨率全自動高速X射線顯成像系統(tǒng) 折射儀

下一篇：ZetaView QUATTPMX納米顆粒追蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：